Elektronik kartlar, bileşenler ve metal malzemeler de dahil olmak üzere çeşitli örnekleri gözlemlemek ve ölçümler için kolayca yerleştirilerek 3D gözlemden, ölçüm ve raporlama işlemleri yapılabilir.Kolaylıkla değiştirilebilen, geniş objektif seçenekleri.Tek dokunuşla 6 farklı gözlem yöntemi arasında geçiş (brightfield, darkfield, MIX, polarizing, simple polarizing, differential interference contrast).Telecentric optik sistem ile doğru ölçüm.20-7.000X büyütme aralığı.Yüksek büyütme oranında dahi yüksek çözünürlüklü görüntü.Uzun çalışma mesafeli objektifler